Ученые из Вашингтонгского университета продемонстрировали новую технологию, с помощью которой можно улучшить эффективность современных органических солнечных панелей, сообщает Nanotechweb.

Эта технология основана на использовании электростатической силовой микроскопии (electrostatic force microscopy - EFM), которая помогает определить зависимость между производительностью солнечного элемента и морфологией ее поверхности.

«Теперь мы можем легко определять, где на наноструктурной пленке эффективные участки, а где – нет, - говорит один из исследователей, Дэвид Джинджер (David Ginger). – Предел разрешения EFM-микроскопии составляет менее 100 нанометров. Нам удалось установить, что микроскоп можно использовать в качестве индикатора распределения зарядов, индуцированных фотоэффектом. А благодаря высокому разрешению EFM-микроскопии, мы получаем точные данные распределения производительности фотоэлемента, которые можно использовать для улучшения производства солнечных панелей».

EFM - это версия атомно-силового микроскопа, который измеряет распределение силы Кулона между зондом-кантиливером и образцом. После сканирования образца микроскопом ученые получают карту распределения зарядов на поверхности солнечного элемента. А пространственное разрешение микроскопа до 100 нанометров позволяет находить слабые электрические поля от некоторых фотоиндуцированных зарядов.

Но особенность метода состоит не только в измерении зарядов. Главное – отобразить микроскопом их изменение во времени при попадании на фотоэлемент света. Этого удалось достичь с помощью измерения «частотного сдвига», появляющегося при измерении изменяющихся во времени зарядов.

Интересные материалы:

• InFocus WorkBig IN36: новый проектор в "Цифровых Системах"
• "Юнимилк" запустила "1С:Предприятие 8" на 20 заводах
• Экологическая обстановка в районе аварии ракеты "Днепр": новые данные
• Южно-Уральский университет обновляет офисную технику
• Федеральный фонд ОМС закупает лицензионное ПО

все новости