Получение отчетливых изображений молекул затруднено тем, что их атомы находятся в постоянном тепловом движении, при этом большие атомы могут заслонять атомы меньшего размера.

Ученые из университета Корнуэлла совместно со специалистами IBM разработали новый метод, позволяющий получить подробные изображения отдельных атомов молекул кристаллов. С его помощью можно разглядеть полярность, или физическое расположение, крупных атомов и запечатлеть атомы поменьше. С помощью новой технологии ученые смогут предсказывать физически свойства кристаллов, что очень важно при изготовлении лазеров и других приборов, рабочие характеристики которых зависят от структуры отдельных молекул.

Для получения улучшенных изображений группа ученых под руководством доктора Андре Мхояна (Andre Mkhoyan) использовала сканирующий трансмиссионный туннельный микроскоп, с помощью которого изучались образцы нитридов алюминия и галлия и других материалов, применяющихся в нанотехнологиях. Дополнив микроскоп аберрационным корректором, фокусирующим прибором, разработанным компанией Nion, ученые направляли на кристаллы образца пучок электронов, размером всего 0,9 ангстрем.

Рассеянные электроны фиксировались с помощью кольцевого детектора, по результатам рассеяния электронов затем восстанавливалось изображение кристалла, с учетом того, что большие атомы отклоняют электроны под большим углом, чем атомы меньшего размера.

Интересные материалы:

• MySpace поможет американцам выбрать президента
• Сотрудничеству России и Франции в области космоса исполнилось 40 лет
• Кража личных данных: каждый десятый - жертва
• Eset NOD32 защитит ИС парламента Узбекистана
• Сэм Фишер на золоте

все новости